Zeiss ApoTome.2

瞬間一切都看起來不一樣了! 
ApoTome.2螢光影像雜光消除系統

  • 有效消除較厚螢光樣本非焦面雜光,使影像澄清。

  • 可做光學切片,3D重組。

  • On-line獲得澄清影像。

  • 輕易切換傳統螢光及澄清化螢光擷取兩種模式。

  • 適用於Zeiss最高階正立,解剖與倒立顯微鏡。

螢光標定為研究細胞學與分子生物學十分重要及普遍的方法,然而傳統的顯微螢光擷取往往無法克服非焦距面雜光的干擾,導致影像模糊不清而無法獲取精確的資訊。此現象尤其發生於以高倍率高解析力物鏡觀察較厚之螢光樣本時。因高倍率高解析力物鏡之景深較薄,僅約1um,但樣本之厚度往往大於1um,若落於景深範圍外(非焦距面)的螢光樣本所產生之雜光無法消除,不但會干擾焦距面螢光影像的觀察,且進一步地阻礙後續3D影像重組與3D影像量測的進行。
目前較廣為人知的消除非焦距面雜光的方式有兩種:其一為共軛焦顯微鏡,以pinhole的控制阻擋非焦面雜光進入影像擷取系統;其二為3D deconvolution,依點擴散函數(point spread function)原理,將已擷取之較模糊的螢光影像以軟體運算方式處理,以獲得澄清化的影像。前者效能卓越但十分昂貴,後者效能雖佳,但有軟體運算費時甚久,無法及時獲得影像之缺點。
ApoTome為Zeiss於2002年底正式推出之螢光影像非焦面 ‧”Apo”為頂級之光學,”Tome”為切片之意,ApoTome”  即意指頂級之光學切片。 
‧此系統結合特殊硬體裝置與軟體運算的方式,達到即時的澄清化螢光影像擷取。
‧硬體方面包括一內含光柵之滑板及其控制器,軟體則包含硬體的操控界面與擷取影像的運算程式。
使用時將此光柵滑板推入螢光光路中視野光圈的位置,使光柵正確投影於樣本的焦距面,再以控制器控制三段光柵位置,以數位影像系統擷取三段光柵位置投影之影像後,立即經軟體的運算獲得消除非焦距面雜光之澄清化影像,光學切片厚度可達1 Airy,有助於後續3D影像重組與3D影像量測實驗的進行。
ApoTome可裝置於Zeiss頂級正立螢光顯微鏡Axio Imager D1、Z1及倒立螢光顯微鏡Axio Observer D1、Z1,或舊型之正立螢光顯微鏡Axio Plan 2及正立螢光顯微鏡Axiovert 200/200M,方便現有之Zeiss顯微鏡升級。可使用傳統螢光光源(汞燈或氙燈),不需使用昂貴的雷射燈管,研究者可以最經濟的成本獲得消除螢光影像非焦面雜光的功能。另由於軟體運算時間大大地減少(130萬畫素僅需約100ms),且不必要擷取Z軸堆疊影像即可做澄清化的運算處理,研究者得以迅速判斷所擷取影像的樣本優劣,並迅速從中獲得更精確的資訊,大為提昇研究的效率。應用領域廣及細胞生物學、神經學、發育生物學、分子病理學、分子遺傳學等。相關之螢光標定實驗方法如蛋白質免疫螢光標定,染色體螢光原位雜交,自發性螢光蛋白質標定等研究,皆可應用ApoTome而獲得澄清化的螢光影像擷取與更精確的判讀。

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