展覽地點 ：上海新國際博覽中心　攤位號碼：W5-5308
展覽時間 ： 2008年3月18日(Tue)- 20日(Thur)　AM 9:00∼PM 5:00

Zeiss Aims 45i 產品特點說明 • Automatic measurement • N.A up to 1.4 HSEB Axiospect 301產品特點說明 • Front- and back side microscopic inspection and review • Full wafer macro inspection • Edge inspection • Sorter function, also with back side flip • Macro defect documentation (DEDO) • Edge grip handling for minimum of wafer contact and 　　contamination.
台灣儀器行(股)公司 敬邀

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