精密測定儀器ZEISS新產品發表會
親愛的客戶
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感謝您多年來對ZEISS及敝公司的支持與愛護,ZEISS及敝公司將配合於3/21在新竹科學園區管理中心202會議室舉辦新產品發表會
本次展出的產品有：
全世界量測技術領先者ZEISS
將發表最新的量測設備技術
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3D X-RAY 電腦斷層分析系統→METROTOM
★奈米三次元量測系統→F25
非破壞性尺寸量測
尺寸曲面比對
產品內部缺陷分析
逆向工程
可帶給工業產品開發及品管最新&最快速之解決方案
日期: 96年3月21日 AM 9:20 ~ PM 16:00
主講人 : Mr.Klumpp
地點: 新竹科學園區管理中心202會議室
地址: 新竹市新安路2號 (管理中心提供付費停車場)
歡迎蒞臨參觀及指教
(基於場地限制,參加名額有限,請盡早完成預約報名)
台灣儀器行(股)公司
精密測定部 敬邀
預約參加回條
傳真專線 : (02)27311700
公司名稱_____________ 參加人員_________________ 電話______________
對產品內容有任何指教,請來電(02)27723333#164 簡淑菁小姐
