Nikon N-SIM E超高解析顯微鏡
Nikon N-SIM E運用結構式照明成像技術，突破一般光學極限，水平軸的解析度達115nm，垂直軸的解析度達269nm，解析力提升約2倍，讓光學顯微鏡觀察範圍推向分子層級，開啟科學研究的新視野。此系統更為精簡且經濟實惠，支援常用的激發波長和基本成像模式，是個人實驗室的最佳選擇。
★產品特點
◎優於傳統光學顯微鏡的分辨率
利用結構式照明顯微技術(Structured Illumination)，並搭配Nikon開發之特殊演算法，運用莫爾條紋Moiré pattern干涉原理，將來自兩種不同方向的空間頻率重疊；透過傅立葉轉換運算公式，讓原本損失無法觀察的細節還原，進而得到約傳統光學系統2倍的解析力影像資訊。
◎時間解析度可達每秒1張
N-SIM E實現高速超高解析圖像擷取，時間分辨率約1秒/幅，因此可有效進行活體細胞觀察實驗。
◎3D-SIM模式 - Z軸高解析成像技術
可使用Slice 3D-SIM(標配)與Stack 3D-SIM(選購)這兩種方法建構Z軸影像。
◎3雷射多色超高解析度成像
N-SIM E專用精簡型LU-N3-SIM雷射基座，安裝最常用的3組雷射（488/561/640），可進行多色超高分辨率成像。
◎物鏡優化
SR(super resolution) objectives高解析系列物鏡，可配置60x或100x，其中100x油鏡適合固定封片式樣本，60x水鏡則適合活細胞長時間成像。
★產品規格
