蔡司ZEISS 多測頭在三次元上的量測應用 線上研討會

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如何選擇一個適合且性價比高的量測方式？ZEISS不斷的朝著複合式功能的三次元發展，讓多種測頭能在各種三次元機台上使用，一次解決所有量測上的問題，並減少空間的佔用以及人員的重複訓練。

講師：殷慕柏 業務副理
日期：2020/06/11   時間 : 13:30 – 15:00

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