SLK20 雷射掃描儀

高精度、高解析度之藍光雷射 CMM 掃描儀

LK Metrology 之 SLK20 雷射掃描儀採用 VIVID 雷射掃描技術，克服接觸式和其他非接觸式科技之侷限性，提供專業人員在量測複雜曲面、微小結構、易碎工件、深色材料和高反射面時有機會最大限度的提升量測效率。
 

	更智慧化的量測解決方案 日趨複雜之零件、產品設計改良及新材料導入都增加對製造和品質保證團隊之要求。雖然傳統接觸式量測是很多應用之首選方法，但最新之非接觸量測科技為越來越多種類之檢測任務提供關鍵優勢。
最先進多重掃描技術和獨一無二軟的體功能最佳化了 SLK20 雷射掃描儀功能，使之適用於所有類型表面。 VIVID 多重掃描技術將雷射掃描儀的動態掃瞄範圍擴增四倍，其掃描一次可以同時量測最挑戰性之表面包括深色、穿透或高反射材料。

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