多測頭應用與幾何形狀公差研討會
如何選擇一個適合及性價比高的量測方式是大家都很需要的,Zeiss特別為此朝著複合式功能的三次元發展,讓多種測頭能同時在三次元機台上使用,讓Zeiss三次元能夠一次解決量測上的問題,並且減少空間的佔用以及人員的訓練,當天也會針對幾何形狀公差進行講解說明
時間: 108 年 11 月 28 日 (星期四)
地點: 台灣儀器行股份有限公司
台北市南京東路三段272號6F(兄弟飯店正對面)

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