【新品快訊】LK SLK25 三次元雷射掃描儀
LK Metrology 帶來最新世代的三次元雷射掃儀技術，以往透明件、高反射率的表面量測問題皆能迎刃而解，透過更高精度的掃描技術，實現更複雜快速的量測問題。
產品優勢
- 先進技術：獨特 VIVID 技術，掃描儀的動態範圍增加四倍，獲取更全面的點雲數據，完整呈現零件的三維空間數據。
- 藍光技術：高頻率 450 微米藍光波段，即使在深色、透明和高反射表面上，也能提供超高清晰度的數據。
- 高解析度：高密度的點雲數據，確保即使是最小及最複雜的零件，也能以最多細節量進行測量。
- 高精度：領先業界的 ISO 認證精度，確保最具挑戰性的零件，能以最高精確度進行測量。
- 多重感測器：自動連接安裝，可將探針和雷射光掃描儀結合於一個自動程序內進行測量。
- 效率：非接觸式測量除減少量測時間，同時保持卓越準確性，提升整體生產力。
- 多功能性：90 度安裝轉接器連結機器的能力，適用於需要垂直安装的應用場合。
VIVID 雷射掃描技術
SLK25 完全符合 CMM 雷射光掃描儀標準規範，國際認證精度標準 ISO 10360-8，確保其測量結果可靠性值得用戶信任。