接觸式掃描測頭在三次元的應用

         接觸式掃描功能最早是Zeiss把它應用在三次元上,因Zeiss認為唯有掃描量測才能呈現出最接近實際工件的量測結果,並可以利用掃描輪廓的結果來分析工件的不良,可增加量測的穩定度以及減少成本的浪費,至今Zeiss 所有三次元已將此功能當成標準配備,讓客戶在量測上能同時有多種方式的選擇!

1.jpg
2.jpg                                                      3.jpg

(在圓直徑及圓中新數據都有點偏差)

4.jpg       5.jpg

 (單點容易造成量測誤差)

掃描功能成為標準配備的時代已經來臨了

聯絡我們