ZEISS O-INSPECT 發表會圓滿成功

 
台灣儀器行於1/20在竹北量測中心舉辦了蔡司 O-Inspect全功能量測系統新機發表會,邀請各公司前來了解我們新型的機台。
蔡司特別開發O-Inspect複合式量測儀器,同時具有光學量測及接觸式三次元量測的功能,可以兼具多種量測需求。
本次的報名相當踴躍,也特別感謝各公司的熱情參與,讓台灣儀器行能持續的推廣精密量測的相關應用及資訊,並期許透過台儀的三次元精密量測儀器,讓台灣的產業蒸蒸日上。
如需任何資訊,歡迎與台灣儀器行精測部廖千瑀小姐連絡,電話 (02) 2772-3333 # 132 / EMAIL: ticimt_sec@ticgroup.com.tw
與大家分享此次發表會的相關花絮,也希望大家能夠給予更多的建議與指教。
各公司代表踴躍參與
發表會現場實機展示說明
 
 

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