高通量分析

HC系統提供您快速自動化的多孔盤掃圖 、 影像擷取 、 後續檔案分析

HC系統是由倒立全電動顯微鏡 Eclipse Ti2-E 與 分析軟體NIS-Element HC組成。硬體方面結合 Piezo Z載台、快速的螢光光源切換模組，可快速且全自動化完成多重多孔盤的影像擷取，使用Ti2-E的PFS追焦功能，或是搭配快速的Piezo Z載台與軟體自動對焦功能，可維持長時間影像不失焦。HC靈活的實驗模組設定，可依客戶不同的實驗需求設計出客製化的實驗排序，快速又方便。

快速掃圖且靈活的實驗模組設定 HC 高通量分析軟體建立於Nikon NIS-Elements 軟體之下，提供快速多孔盤掃圖與後續檔案分析。搭配自動對焦功能、與高速濾片切換等功能，在結合客製化軟體模組後，可依實驗需求完成快速多孔、多盤的檔案分析

即時性的檔案回顧與分析 在進行大量多孔盤實驗的同時，軟體可立即性秀出已拍攝的圖檔與後續的檔案分析，此過程不需將全部影像都擷取完成才執行

多樣化的檔案分析 多孔盤拍攝完後，HC可提供後續不同的篩選條件 (例如: 樣品螢光強度 / 細胞數量)，快速篩選出有興趣的實驗數值