降低量測成本新選擇
LK 三次元搭配 Nikon 雷射測頭
近年來加工零件形式趨於複雜，對於輪廓的精度要求也越來越高，進而增加量測困難度及工時成本，要如何解決此問題呢？
LK 三次元量測系統搭配 Nikon 雷射測頭，透過雷射掃描測頭提供快速、精準、複雜及微小尺寸的量測，大大提升量測速度及精準度，同時藉由大量的點雲資料有效及快速改善加工製成，降低不良率發生，解決您的量測痛點！
非接觸雷射掃描可解決下列量測問題
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探針球徑太大 |
接觸力道導致表面變形 |
未知的量測特性 |
提供大量的點雲資料 |
表面眾多的小穿孔 |
不需使用防反射噴霧 |
雷射測頭應用範圍
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